LBIST

LBIST 是logic build in self test. 就是对逻辑进行内建自测试，不同于ATPG, LBIST的测试激励是由on-chip的电路自己产生，对功能逻辑进行扫描测试。不依赖于ATE机台，直接在板上进行测试，甚至芯片部署到产品中以后也可以进行in-system 的测试。LBIST的开发难度大、开发周期长，对芯片面积也有很大的开销，一般都是对可靠性要求比较高的芯片才做LBIST，像消费类的产品鲜有做lbist的。由于LBIST on chip产生的激励是伪随机的，coverage一般不高，并且对芯片中的X-source敏感，芯片中的X-source会直接crash LBIST，所以进行lbist设计，清理芯片中的x-source是很大一部分工作量。