基础练习 芯片测试

2019-05-16  本文已影响0人  就这样吧嘞

问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

第一种解法 和第一行比对,记录结果,相同为1;不同为0;

import java.util.Scanner;

public class Main {

    public static void main(String[] args) {
        Scanner sc = new Scanner (System.in);
        int n =sc.nextInt();
        int cunchu[][] = new int [n][n];
        for(int i=0;i<n;i++) {
            for(int j=0;j<n;j++) {
                cunchu[i][j]=sc.nextInt();
            }       
        }
        int jieguo[]=new int[n];
        jieguo[0]=1;
        for(int x=1;x<n;x++) {
            jieguo[x]=bidui(cunchu,n,0,x);
//          System.out.println(jieguo[x]);
        }
        
        int sum=0;
        for(int y=0;y<jieguo.length;y++) {
            sum=sum+jieguo[y];
        }
        if(sum>=n/2) {//第一片是好的
            shuchu(jieguo,1);
        }
        else {
            shuchu(jieguo,0);
        }
        
        
    }
    private static void shuchu(int[] jieguo, int p) {
        for(int i=0;i<jieguo.length;i++) {
            if(jieguo[i]==p) {
                System.out.print(i+1+" ");
            }
        }
        
    }
    public static int bidui(int aa[][],int n,int i,int j) {
        int fanhui;//1 相同 0不同
        int jishu=0;
        for(int z=0;z<n;z++) {
            if(aa[i][z]==aa[j][z]) {
                jishu++;
            }
        }
        if(jishu>=n-2) {
            fanhui=1;
        }
        else {
            fanhui=0;
        }
//      System.out.println(fanhui);
        return fanhui;
    }
}

但是只得到80分
找到错误数据,测试结果

6
1 0 1 1 0 1
0 1 1 1 0 1
1 0 1 1 0 1
1 0 1 1 0 1
1 0 1 1 0 0
1 0 1 1 0 1
1 2 3 4 5 6 

发现算法缺陷,1行和2行无法对比
决定换一种思路;
由已知好芯片比坏芯片多。我们可以通过所有芯片判断一颗芯片的好坏
即每列找出相同数据较多元素,即可指导当前列代表芯片的好坏
代码如下:

import java.util.Scanner;

public class Main {

    public static void main(String[] args) {
        Scanner sc = new Scanner (System.in);
        int n =sc.nextInt();
        int cunchu[][] = new int [n][n];
        for(int i=0;i<n;i++) {
            for(int j=0;j<n;j++) {
                cunchu[i][j]=sc.nextInt();
            }       
        }
        int jieguo[]=new int[n];
    
        for(int lie=0;lie<n;lie++) {
            int jishu=0;
            for(int hang=0;hang<n;hang++) {
                if(hang==lie) {
                    cunchu[hang][lie]=1;//排除芯片自身影响
                }
                jishu=jishu+cunchu[hang][lie];
            }
            if(jishu>n/2) {//当前颗为好
                jieguo[lie]=1;
            }
            else{//当前颗为坏
                jieguo[lie]=0;
            }       
        }
        shuchu(jieguo);
        
    }
    private static void shuchu(int[] jieguo) {
        for(int i=0;i<jieguo.length;i++) {
            if(jieguo[i]==1) {
                System.out.print(i+1+" ");
            }
        }
        
    }

}

问题解决,复杂度更低,代码也更为简便

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