EON-MCU硬件在环（HiL）仿真测试系统技术优势

电机控制器开发涉及高电压、大电流，直接进行电机台架试验有较大风险，对算法成熟度要求较高，意昂神州提供的电机HiL硬件在环仿真测试的目的是以最低的成本执行比较困难的测试和使用物理原型风险太大的测试。

技术先进性

PMSM、SRM 和逆变器模型实现高性能仿真

高保真仿真可支持基于FEA 的JMAG-RT 模型及ANSOFT模型

开放式软件提供充分的灵活性和定制化

LabVIEW 项目模板用于构建软件仿真应用和硬件在环应用

直接集成NI VeriStand，用于基于配置的实时测试

桌面仿真模型、LabVIEW Real-Time 仿真模型和基于FPGA 的仿真模型

MCU硬件在环（HiL）仿真测试系统 可浏览意昂神州官网http://www.eontronix.cn/MCU/MCU-HiL.html