采用dd 工具做Nand Flash磨损均衡
文章采用dd工具，将/dev/zero 作为源文件来写入到/mnt/data/stress-test-file文件中：
dd if=/dev/zero of=/mnt/data/stress-test-file bs=1M count=10
生成的stress-test-file文件大小为10M，内容为全0。
基本思路就是获取10M大小的数据，写入到测试文件中，然后再把测试文件中的内容读出来和0x00作比较，如果不为0x00说明Nand Flash可能出现了位反转产生坏块，就退出该nandflash的读写压力测试。
按照博主的想法，我讲源数据改为0x5a，写入到测试文件。
1、产生10M大小 内容为0x5a的文件：
!#/bin/bash
n=10000000
while [ $n -ne 0 ]
do
echo -e '\0132\c' >> mydata
((n=n-1))
done
2、将源文件写入到测试文件：
dd if= mydata of=/mnt/data/stress-test-file bs=1M count=10
3、修改判断标志
将原文中check_buf(buf, 0x00, ret)修改为check_buf(buf, 0x5a, ret)
该方法使用的读写操作包括dd工具都是基于文件系统（操作对象是源文件和测试文件，文件是基于文件系统），并没有绕过FTL（flash tansfer layer）层。
FTL是Nand Flash的驱动层和文件系统层之间的一个均衡算法，不绕过FTL就没有办法对Nand Flash中固定的block做磨损测试，因为FTL会做一些均衡动作，使得Nand Flash的大部分块都会被使用到而不是只使用某些块。
所以这种方法并不能真正的实现nand flash的磨损测试。要实现nand flash的磨损测试，可以使用MTD tools，前提是nand flash的驱动是以MTD方式实现的（有的nand flash驱动是以block方式实现）。以MTD方式实现的nand flash 驱动在Linux系统中会有./dev/mtd* 节点。
